| 范围 | 精度保证范围 | 精度 | 分辨率 | |||
| ℃ | oF | 发生 | 测试 | |||
| TC | K | -200.0～1370.0 | -328～2498 | 0.05%+1 (-100以上) 0.05%+2 (-10以下) |
0.07%+1.5 (-100以上) 0.07%+2 (-10以下) |
0.1/1 |
| E | -200.0～1370.0 | -328～1832 | ||||
| J | -200.0～1000.0 | -328～2192 | ||||
| T | -200.0～1200.0 | -328～252 | ||||
| N | -200.0～400.0 | -328～2372 | ||||
| R | 0～100.0 | -32～3214 | 0.05%+3 | 0.07%+3 | 1/1 | |
| 100～1768.0 | 212～3214 | 0.05%+2 | 0.057%+2 | |||
| 100mV | -10.00～110.00mV | 0.05%+2Ω | 0.05%+30uV | 0.05%+30uV | 10uV | |
| RTD PTW | -200.0～850.0 | -328～1562 | 0.05%+0.6 | 0.05%+0.6 | 0.1/1 | |
| 400SZ | 0～400.0SZ | 0.05%+2Ω | 0.05%+0.2Ω | 0.05%+2Ω | 0.1Ω | |
