MicrotrakII "高速"激光位移量测系统
MicrotrakII是采用三角量测技术来进行位移、距离、振动及厚度检测的精密量测系统。它不受 表面物体材质、颜色及发射光源的影响，应用范围极广，是解决工业各式案例的理想选择。
特性及优点:
  • 响应频率DC to 20kHz 如果采用滤波器可以达到0.1HZ
  • 可视激光光点使激光头操作及对位更加容易
  • 菜单操作面板可设置上下限、补偿/增益范围、单位及其它
  • 文字数值LCD显示器可显示检测结果、设定参数及其它控制参数
  • 可换激光头无需再校正
  • 模拟输出和RS-485输出可连接其它计算机及资料采集系统
  • 分辨率:0.1μm
  • 高速取样频率:40KHz
    规格:
    激光头型号 Standoff 量测范围 分辨率 光点大小
    LTC-025-02 25 mm ± 1mm 0.1 um 30 um
    LTC-025-04 25 mm ± 2mm 0.1 um 30 um
    LTC-050-10 50 mm ± 5mm 5 um 25 um
    LTC-120-20 117 mm ± 10mm 10 um 20 um
    LTC-120-40 117 mm ± 20mm 10 um 20 um
    		• MicrotrakII
    视可选滤波器而定
  • 激光:ClassIIIA,波长670nm
  • 线性度:+/-0.05%
  • 取样频率:40kHz
  • 模拟输出:+/-4Vdc
  • 数字输出:RS-485
  • 温度稳定性:0.05%
  • 控制器:周长IP40，3.5"Hx6"Lx2.5"D
  • 激光头:周长IP67,2.75"Hx3.2"Lx1.2"D
  • 电源:24V,0.75Am
    • 应用范围:
  • 振动
  • 厚度
  • 翘曲度
  • 线性度
  • 位移
  • 阶差高度
  • 同轴度
  • 填充高度
  • 平坦度
  • 热膨胀和热收缩
  • 表面轮廓
  • 动态悬挂
  • 尺寸量测
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    厂商：
  • 香港振联科技有限公司
    • 仪器仪表站©
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