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| 每通道最大采样速率 | 10Msps |
| A/D精度 | 12bit |
| 时基数 | 单时基/每卡，多张卡可组成多时基同步、异步测试系统 |
| 通道数 | 并行4通道 |
| 存储深度 | 4M/CH(I2712B3为8M/CH) |
| 量程范围 | ±0.1V～±20V(共分8挡) |
| 输入信号带宽 | DC 0～3MHz |
| AC 1～3MHz | |
| 通道隔离度 | > 95dB |
| 触发延时 | 正负延时，其时间长度=采样时间间隔×采样延时样点数(不得大于最大采样长度) |
| 触发方式 | 内触发:上升沿触发，下降沿触发，触发电平，在量程的范围可调 |
| 外触发:TTL电平，脉宽10微秒，低电平1V高电平2.4V | |
| 输入阻抗 | 1MΩ/20pF |
| 直流精度 | ±0.1%(FSR) |
| 数字信号输入输出 | 32TTL，其中16个DI，16个DO。 |
| 输入方式 |
Q9单端 |
| 工作温度 | 0～50℃ |
| 存储温度 | -20℃～60℃ |
| 型 号 | 最高采样率 | A/D精度 | 通道数 | 存储深度 |
| I2712B2 | 10MHz | 12位 | 4CH | 4M/CH |
| I2712B3 | 10MHz | 12位 | 4CH | 8M/CH |
| 型 号 | 功能 |
| I16IO | 16路DI，16路DO端子板 |
| I16REP | 16路功率继电器控制端子板 |
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