多点扫描测试控制器
    本控制器是作为各种试验设备配套产品。
    便于用户在使用设备或试验过程中需要对试验对象的各种电气(或其他)指标参数进行巡回或多点测试、纪录的多功能控制器。
    控制器由单片微电脑或工控机为控制核心,配以多点扫描控制电路、继电器板组成。主要实现定时采样、周期控制、参数打印和输出接口(RS232)等功能。对生产型和检验型用户尤其适用。大大提高了工作效率和工作质量。
    成都亚光电子公司在晶体管低温试验测试工序中,配合低温试验箱使用本产品对晶体管在常温和低温环境中的β和 Hef参数的测试,取得明显的效果,对操作工的工作负担大大减轻,而且提高了数据的准确性。
    可根据用户的具体要求,制造相应功能的控制器。可以和试验设备成套设计供应,使产品更系统化,功能更完整适用。
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厂商
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