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BJ3195IC测试系统是采用模块化结构而开发的模拟电路测试系统,可测试A/D,D/A,集成运放,电压比较器,模拟开关等模拟器件
。 本系统主要特点: |
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| 参数名称 | 量程范围 | 分辨率 | 精度 | |
| 输入失调 电压VIO |
0--20mA 0--200mA |
10uV | ±0.25%+5 uV | |
| 输入失调 电流IIO |
0--20nA 0--200nA 0--2000nA 0--20 u A |
10PA 10PA 100PA 1nA |
±2% | |
| 输入基极 电流IIB |
0--20nA 0--200nA 0--2000nA 0--20 u A |
10PA 10PA 100PA 1nA |
±2% | |
| 开环电压 增益AVD |
58--100dB 100--130dB |
±1dB ±3dB |
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| 共模抑制 比KCMR |
43--100dB 100--130dB |
±1dB ±3dB |
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| 电源电压 抑制比KCMR |
43--100dB 100--130dB |
±1dB ±3dB |
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| 最大输入幅 度±Vopp |
0--±1.6V 0--±16V 0--±51V |
10uV | ±1mV ±2.5mV ±10mV |
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| 静态功耗 ±IQ |
0--100uA 0--1mA 0--10mA 0--25mA 0--250mA |
5nA 50nA 500n A 1.25 u A 12.5 u A |
±0.5%+100nA ±0.5%+100nA ±0.5%+100nA ±0.5% ±0.5% |
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| 增益带宽 乘积BW |
200MHz | 0.05MHz | ±10% | |
| 转换速率 ±SR |
0--10V/uS 0--20V/uS 0--100V/uS |
0.01V/uS 0.1V/uS 0.1V/uS |
±5% ±10% ±20% |
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DUT 电源 |
Vs+ | 0--51V | ±12.5mV Is=225mA |
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| Vs- | 0--51V | ±12.5mV Is=225mA |
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