LG25 大量程光电测长仪
  • 可在较大范围内对位移或长度进行精密测量。
  • 经过适当变换,间接测量压力、温度、硬度、液位、应力、应变等。
  • 可作为精密定位基准,用于集成电路X—Y工作台的定位校准,超精加工机床的坐标定位控制等。
  • 可作动态测量反馈实时控制,在军工和机械加工中实现大量程的在线测量和反馈控制。
  • 可广泛应用于自动化生产线对大批量生产的工件进行自动分选和质量控制。
  • 配以适当支架或附件,可做成各种专用的大量程测量装置,如高度规检测仪、坐标校准仪等。
  • 主要参数:
    型 号 数显分辨率 最大示值误差 测量范围
    LG25-01 0.1μm ± (0.4+0.012L)μm 0-25mm
    LG25-001 0.01μm ± (0.1+0.004L)μm 0-25mm
    LG25-0001 0.001μm ± (0.04+0.001L)μm 0-25mm
    LG50-01 0.1μm ± (0.4+0.012L)μm 0-50mm
    LG50-001 0.01μm ± (0.1+0.004L)μm 0-50mm
    LG50-0001 0.001μm ± (0.04+0.001L)μm 0-50mm
    LG100-01 0.1μm ± (0.4+0.012L)μm 0-100mm
    LG100-001 0.01μm ± (0.1+0.004L)μm 0-100mm
    LG100-0001 0.001μm ± (0.04+0.001L)μm 0-100mm
    LG25 大量程光电测长仪
    构成:
    大量程光电测长仪由大量程光电传感器、数显表(数显卡)和辅助装置构成。
    特点:
  • 精度高、测量速度快、范围大,线性度极高(线性度可达千万分之一)。
  • 测量值数字显示,有效减少人为读数误差。
  • 性能稳定,漂移量小。
  • 可与计算机联机,实现自动测量和在线测量。
  • 具有多种智能功能,可任意位置清零、公∕英制转换、自动读数、自动求最大值、最小值、峰峰值等。
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    厂商
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