PU-OS2000 非接触雷射检出器
  • 可搭配电脑式粗度仪
  • 针对特殊材质试片使用 ( 软性材质 )
  • 可搭配 C.C.D. 观察量测点
  • 可做非破坏量侧
    		• PU-OS2000 非接触雷射检出器
    返回    TOP
    厂商：
  • 日本小槟研究所
    • 仪器仪表站©
    Auto17.Net