SEF-3500D轮廓测定仪
  • 可量测表面粗度及轮廓(只需更换检出器)
  • 粗度有ISO . JIS . AMSE . DIN . BS 等各国规范
  • 粗度校正，可同时校正 X-Y 轴
  • 轮廓测定精度高达1+ | 0.0 4h |μm
    		• SEF-3500D轮廓测定仪
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    厂商：
  • 日本小槟研究所
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