CL3/CL3DL 精密超声波测厚仪
德国K.K公司CL3&CL3 DL精密测厚仪具有更高的精度，更多的功能：
  • 分辨率可达0.001mm，精密零件首选
  • 配合不同的探头使用时，既能满足一般测厚要求，又能测量薄壁工件、塑料及陶瓷制品
  • 背光采用场致发光显示，更加明亮清晰
  • 用户自定义厚度上下极限，读数超出后仪器自动报警
    技术参数
  • 操作原理:超声脉冲回波法
  • 测量范围:
    接触探头方式：2到381毫米（钢）
    延迟探头方式：0.25到25毫米（钢）
    塑料探头方式：从0.13毫米开始
  • 材料声速:254到15000米/秒
  • 显示刷新率:4Hz
  • 显示:4位数LCD带背光，数字高度12.7mm
  • 尺寸:165×72×41mm（H×W×D）
  • 重量:包括电池400克
  • 分辨率:
    接触探头方式：0.01,0.1毫米
    延迟探头方式：0.001,0.01毫米
    塑料探头方式：0.001,0.01毫米
  • 操作时间:无背光情况下大于35小时
  • 操作温度:－10℃到50℃
  • 电源:3节1.5V AA碱性电池
  • 自动关机:不用后3.5分钟
  • 数据存储(CL3DL):1200个读数，99组文件
  • 接口(CL3DL) :RS232C，SPC
    • CL3和CL3 DL探头技术数据
    探头名称 探头
    类型    		 接触
    直径    		 测量范围 标称频率
    Alpha 2DFR 延迟 7.6mm 0.25到25mm 15MHz
    Alpha 2A,mini DFR 延迟 4.8mm 0.25到5mm 20 MHz
    CA211A 接触 19.1mm 2到381mm 5 MHz
    CA215 接触 12.7mm 2到51mm 5 MHz
    Alpha 2F(标准探头) 接触 9.7mm 2到254mm 10 MHz
    Alpha DFR-P 塑料 7.6mm 0.13到3.8mm(塑料) 20 MHz
    		CL3/CL3DL 精密超声波测厚仪
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    厂商：
  • 北京天创时代检测设备有限责任公司
    • 仪器仪表站©
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