CIS-100激光粒度与形状分析仪
     CIS-100型分析仪是集粒度,形状分析为一体的新一代产品。 Galai公司,总结多年来在粒度分析领域的经验,特向大家推荐此可用于处理各种不同范围的粒度分析设备。CIS-100型粒度分析仪分析快速、使用简便,是质量控制及科研研究的最佳工具。
     Galai公司生产的CIS-100型分析仪综合了粒度分析(PSA)与动态粒形分析(DSC)的特点,可提供大范围内球状和非球状颗粒的粒度、粒形信息。
粒度分析(PSA)
    粒度分析仪是基于TOT理论(时间推移理论)而建立的。用一束聚焦的 He-Ne激光光束,在一个楔形棱镜的推动下恒速旋转,来扫描移动的或静止的颗粒样品。已知角速度,每个颗粒的大小可由持续时间及光束暗化信号计算。用粒度分析测试300个大小间隔不连续的颗粒,可得到精确、可重、稳定性强的结果,并且所得结果专指粒度,这要比粒度作为第二特征进行推测所得出的结果要好得多。同时也消除了由折射指数、粘性变化、布郎运动、热对流及其他物理现象所引起的误差。
动态粒形描述(DSC)
  动态颗粒描达是一种可选的颗粒粒形描述系统。颗粒在被检测时可显示于一个检测屏上。当颗粒在不停的流动时,一个带同步频闪灯的黑白高速CCD照相机不断地对其进行拍摄,也就是说没有必要停止样品的流动或把检测仅限于静止状态。多重图像被放大、生成并自动分析(一般在1秒钟内),以确保全方位描述样品。所有统计数据及图像均可被永久记录储存或打印出来。
模块化
   可更换的测量室使得颗粒的分析可在任何状态下进行:液态、粉末状、烟雾状、胶状、薄膜状和乳状。特殊测量室则可以对高浓度样品进行测量。以个人电脑机为基础,CIS-100 可以方便地连接到LIMS。
测量速度
    使用CIS-100,做粒度分析非常方便。CIS-100综合了一个特快扫描和快速分析结构,低浓度的颗粒可被迅速检测。仅需30秒钟即可获得浓度为2×104个颗粒/立方厘米、等弥散性为60微米的颗粒的分布信息。对于浓度为1.5×105个颗粒/立方厘米、等弥散性为11微米的颗粒,仅需11秒即可获得精确的颗粒描述。
宽量程
     PSA粒度分析覆盖了一个较宽的范围:只需通过换透镜即可测得0.5 到3600微米范围内的颗粒。利用插补法,小到0.1微米的渣状颗粒也可估测出来。次级量程可以通过软件功能获得。
     DSA:使用Galai视觉照相机,可在几分钟内测得上万个从1微米到 6毫米的颗粒形状,颗粒粒形描述仪极高的光学品质及高对比图形提高了反差较小的颗粒的测量精度。
辅助设备:
    可利用CIS-100型仪器多种自动、高级的辅助设备来测量湿态或干态的粉末样品。
LFC-101:  液流控制器,可用于自动/半自动下简便快速地制备样品。
PF-101:  干粉送料器,可快速、高效地把干态粉末自动送入CIS-100 测量部件内。
PD-10:  干粉分散器,用于把干态粉末快速分散在导轨上。
AG-100:  烟雾生成器,用于不断将干粉转换成烟雾状。
仪器特点:
    粒度分析(PSA)和动态粒形描述(DSC)系统分别引入了激光测量和视觉测量技术。激光测量源于 TOT理论(时间推移理论)。Galai的视觉测量则引进了一部CCD黑白照相机和一部同步频闪灯。
一般指标:
测量参数: 颗粒大小、形状和浓度。
颗粒大小范围: (PSA粒度分析)0.5-600μ,2-3600μ;(DSC粒形描述)0.5-6000μ
浓度范围: 对1μ颗粒可高达109颗粒/平方厘米
颗粒状态描述:  液状、气状、或平面状
光学单位尺寸:  665L×280W×183H(mm)
光学单位重量: 14.3Kg
光学单位用电: 100-130V,205-240V,50/60Hz,100VA
计算机: IBM386或486兼容机,或IBMpS/2-40SX-386,IBMPS/VP
粒度分析部分:
激光: 2mW He-Ne,632.8nm
探测器: 硅针光电二极管
分辨率: 全量程的0.3%,最小可达0.2μ
动态范围: 300:1
输出数据: 以ASCll格式生成外部程序。具有微分直方图、积分图、颗粒大小、面积、瞬时体积统计、置信度、浓度和固态含量图一图比较表
重复模式: 高达1000次的测量,具有自动数据存储和打印功能
动态粒形分析部分:
视觉照相机: 高分辨率760×480像束的黑白CCD照相机
形态范围: 视觉放大倍数与显示器的尺寸有关:使用一台17寸的显示器时,对物镜CW总的放大倍数为600倍。
 
形态范围
目标放大倍数
F.O.V
μ/Pix
物镜CW
20×
450×300μ
0.7
物镜DW

1500×1200μ
2.3
物镜EW
1.4×
6200×4500μ
9.5
软件: 可最多自动分析30000个颗粒(每幅图最多1800个非重叠颗粒)。计算机可控制灯光亮度和闪光时间。高精度光源校正算法。对非聚焦区的颗粒产生的二元噪声的剔除有特殊的算法。具有对尺寸及形态滤波算法的最佳粒级分析程序。
数据输出: 以ASCll格式生成外部程序,28个特定目标参数。全想象统计及滤波。微分直方图,从一个到多个图象的颗粒形态特征的累积图。数量、面积及体积各种表格。
测量单元模块: 适用于干燥粉末、悬浮物、纤维物(层状流质物)、规则不透明的液体。
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厂商
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