N 系列纳米粒度分析仪
N系列 纳米粒度分析仪是采用 动态激光法 测纳米颗粒的粒度分析仪，原理基于ISO 13321分析颗粒粒度标准方法，即利用运动着的颗粒所产生的动态的散射光，通过 光子相关光谱分析法 PCS(Photon Correlation Spectroscopy)分析颗粒粒径，其特点是快速、准确、分辨率高。应用领域包括制药，生物医药，纳米 材料等行业。典型样品:氧化铝/铜/金钢粉、半导体、硅盐等无机材料，聚合物乳胶、乳液、油漆、颜料 、药物、甾体等有机体。
N系列的产品包括 N4 Plus 和 N5 两个型号:
N4 PLUS
技术特点:
  • 唯一采用 六个角度 (在0-9角度范围)检测的光子相关光谱粒度分析仪
  • 通过独有的指纹分析FINGER-PRINT FUNCTION给出六个角度的Unimodal分析图，快速判别样品类型，是单分散体还是多分散体或混杂体。 更给样品独特"指纹"数据作为以后质控的对照参考
    • 分析性能:
  • 粒度测量范围:1-5,000nm
  • 测量时间:30-180秒(或以上)
  • 样品温控范围:0-90℃±0.1℃
  • 粒度分布:可区别平均粒度比大于2.5的两个峰
  • 分子量测量范围:104～1012克/摩而(适用于聚合物)
  • 数据输出: 平均粒径、粒度分布、扩散系数及平均分子量等
  • 探测器:六角度探测器
  • 相关仪:Multi Tau相关仪在精度上相当于3072个线性通道
    N5
    N5 是在 N4 Plus 成功的基础上新开发出的一型产品，采用了比N4更大功率的激光器和最新开发的软件。
    		• N4 系列纳米粒度分析仪 N5 系列纳米粒度分析仪
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    厂商：
  • 成都宇科技术开发有限公司
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