Rise 系列激光粒度分析仪
工作原理
1 .全量程米氏散射理论 Rise 系列激光粒度分析采用全量程米氏散射理论,充分考虑了分散介质和被测颗粒的折射率,结合专利的测 量装置,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化来反演出颗粒群的粒度大小和粒度分布规律。
2 .Rise 系列激光粒度分析仪采用最优的非均匀性交叉三维扇形探测器阵列和无约束拟合反演方法,从而能够准 确地测量颗粒度分布。
仪器性能
1.高灵敏探测系统
光源: Rise 系列激光粒度分析仪采用 He-Ne 激光气体光源,波长 0.6328 微米,波长短,线宽窄,稳定性好。激光电源及激光管的使用寿命大于 15000 小时;
探测器:仪器光电检测系统采用高灵敏度的探测器,一个主探测器,多个辅助探测器,呈非均匀性 交叉三维扇形矩阵排列,最大检测角达到 135 度;
光路:采用一个量程设计,会聚光路独特,减少了傅立叶透镜组,使测量范围更宽,分辨率更高, 误差降到了最小。
2. 可调式分散循环系统
内置大功率超声空化分散系统,良好的屏蔽处理使超声分散和样品测试同时进行,即使具有超强团 聚性的颗粒或带有磁性的颗粒也能够充分分散以获得真实的粒度分布数据。
仪器内置可调节的搅拌循环均化系统,搅拌速度和循环速度均可根据需要连续调节,选择造当的搅 拌速度和循环速度能够使各种被测颗粒群与分散介质均匀混合,并能够减少气泡造成的影响,充分保证 了测试数据的稳定、可靠。
3.强大的软件处理系统
Rise 系列激光粒度分析仪颗粒粒度测量分析系统功能强大,测试数据可以做平均,统计,比较和模式转换等 处理,具有微分分布,累积分布、 R-R 分布,标准分级,自定义分级和按目分级等多种格式。在 0.02-1000 微米范围内默认分级 120 级,在量程范围内,从 1-120 级可自定义分级;
测试报告中有粒度分布图形和粒度数据图表,有 D10 、 D50 、 D90 ,平均粒径和比表面积等特征参数,还有两个自定义参数,可根据需要输入。重量比表面积与体积比表 面积可以互换;
软件具有打印预览功能,能够将粒度分布图形和粒度数据图表存成图片或 PDF 格式,便与 WORD 交互使用。支持中、英文格式测试报告打印。页眉和页脚可根据需要进行修改;
软件界面友好,测试过程瞬时刷新,测试状态清晰可见,可视性强,可随时观察测试状况,了解仪 器内部运行情况,分析所测数据的真实性,可靠性。操作过程标准化。
4. 简单快速的操作系统
仪器高有智能化触摸式按键操作面板。超声、搅拌、循环、排液等操作键都被安排在面板上,便于 操作和观察;
仪器简单、标准、量化的操作不效地降低了对操作人员的要求,内容详尽的操作使用说明书和软件 在线帮助都使操作人员能准确操作、解决疑问、排除故障。
5.质量保证系统
仪器硬件设计独特,整机无易损配件,元器件专业制造,生产严格按照 Q/01RZ01-2004 标准执行,确保产品性能稳定可靠。
Rise 系列激光粒度分析仪
型号 Rise-2002 Rise-2006 Rise-2008
原理 全量程米氏散射理论
测量范围 0.1-300μm 0.05-500μm 0.02-800μm
准确性误差 <3%
重复性偏差 <3%
循环泵 转速(0~5000转/分钟),连续可调
超声时间 0-10分钟,连续可调
搅拌器 转速(0~3000转/分钟),连续可调
探测器 高精密硅探测器
分散池 圆形不锈钢材质、容积400ml
软件 颗粒粒度测量分析系统(Padmas for Windows)
粒度分级 微分布、累积分布、R-R分布、标准分布、自定义分级和按目分级等
电气要求 交流220V,50Hz,200W
生产标准 Q/01RZ01-2004
外形尺寸 1000X330X320mm
重量 38Kg
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厂商
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