X100 粒径分析仪
应用：
    液体悬浮粒子、乾粉粉末
量测范围：0.04 ~ 704mm湿式或乾式
量测技术：使用一元化散射技术的雷射绕射分析
规格和特性：
  • 雷射绕射分析粒度，量测范围0.04～704mm
  • 独特的三雷射系统提供全范围完整的连续性，具最高的解析度和再现性
  • 自我雷射对准，不需要人工调整，减少人为误差
  • 采用二极体雷射光源，不需要热机随开即用
  • 固态式结构，无消耗性原件
  • 自动背景修正，量测时间只要10秒钟
  • 提供体积/数目/面积粒度分布资料
  • Windows 98或NT操作介面，操作亲切简单
  • 配合ASVR样品循环器和MAC-26自动取样器可全自动操作分析循环
    		• X100 粒径分析仪
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    厂商：
  • 中友仪器股份有限公司
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